测量显微镜工业显微镜可以应用在哪些领域？

来源：蜘蛛抓取(WebSpider) 时间：2024-01-06 13:00 标签： 工业显微镜
光学显微镜应用范围有多广泛我国，光学显微镜的应用范围比较广泛，主要包括国防科技、科学研究、环境保护、农业发展、工业现代化、文化教育和医疗卫生等领域。由于其特殊的地位与作用，实践与事实也证明了光学显微镜的市场非常巨大、涉及的领域也非常广泛与深入，我们也相信光学显微镜明天的市场发展会更加广阔。它的应用领域主要包括：①光学显微镜是科学研究必不可少且应用广泛的仪器设备，在高校、科研院所、工厂、国防等领域的科研机构都有它们的身影。②光学显微镜是医疗卫生领域常用的检测设备，在中国几乎所有的医院、防疫站、卫生所以及医疗院校都离不开光学显微镜。光学显微镜可以供医疗卫生单位用于微生物、细胞、细菌、组织培养、悬浮体、沉淀物等的观察，在维护广大人民群众的身体健康、疾病检查等方面的作用巨大。③光学显微镜在工业生产中也是常用的检测设备，广泛地应用于电子、化工等领域。它还可以观察不透明的物质和透明的物质，如金属、陶瓷、集成电路、电子芯片、印刷电路板、液晶板、薄膜、粉末、碳粉、线材、纤维、镀涂层等。同时它也是材料学、金相学、岩石鉴定等领域必不可少的检测仪器。④光学显微镜已经成为现代国防建设技术装备的重要组成部分。在国防科学领域许多新型材料的研制、新产品的开发、新技术的验证、新成果的鉴定都离不开光学显微镜。⑤光学显微镜在环保、生命科学、畜牧、植物保护、刑侦、司法鉴定等方面，作为重要的检测手段和保障技术被普遍采用。（星辰光学）。想了解更多相关信息，可以咨询深圳市星辰光学仪器有限公司，谢谢！编辑于 2022-01-18 10:17
2019-12-25 22:54
来源:
新天光电
工业测量显微镜广泛应用于多个行业，特别在电子行业，是观察电路板的构造和 精确测量距离的“得力”仪器。关于 测量显微镜的测量基础知识， 今天就和您浅聊一下。
一起走进测量显微镜的世界
首先，我们从测量显微镜的主要构成和光路说起，请看下图：
左：显微镜的主要构成图
右：显微镜的光路图
在上图中也提到了显微镜的三种照明方式。照明方式不同，观察成像也不同，因此需要根据不同的工件以及测量部位，选择最适合的照明方式。
照‖明‖方‖式
透射照明
采用透过轮廓光观察的方法，特别是观察测量轮廓时使用，边缘清晰易于观察。
反射照明
垂直照射测量工件的表面，用来表面性状的观察和测量。
外部照明（环状光纤·环状LED·双光纤）
用斜射的光来照射测量工件的表面，能够实现立体的、颜色重复性良好的观察。
使用显微镜时，您可能会遇到显微镜的专业用语，这些用语都代表什么意思呢？
专‖业‖用‖语
综合放大倍率
综合放大倍率=目镜倍率 x 物镜倍率。
例：使用10x目镜和100x物镜组合时，观察像的综合放大倍率=10 x 100=1000x。
视场数F.N
指目镜能否在广视野下进行观察的指标。F.N=Field Number
装配1x物镜时，通过目镜观察到的像的直径为24mm
实视场 FOV
指通过目镜观察时实际观察和观察工件的实际范围。FOV：Field Of View
透过物镜与成像镜头的光在分划板上（成像镜头焦点位置）成像，
观察被目镜放大后的像。
PC显示倍率(TV综合倍率）
PC显示器倍率（TV综合倍率）是指相机摄像元件对角线长度与PC显示器屏幕对角线长度之比。当显微镜通过CCD 设备连接至电脑上进行成像观察时，就需要评价显示器倍率了。
PC显示器倍率（TV综合倍率）的计算公式如下：
工作距离 WD
聚焦时物镜镜头头部顶点到检查物体表面的距离。工作距离越长,聚焦时操作性越好,不用担心镜头会碰上检查物体。WD：Working Distance
工作距离的示意图
齐焦距离 PFD
聚焦时从物镜安装位置到合焦時检查物体表面的距离。PFD：Par Field Distance
倍率不同但是从物镜安装面到检查物体表面的距离不变，
所以变倍率时不用重新对焦。
焦点距离 FD
焦点距离指镜头（主点）到焦点的距离。 FD：Focus Distance
焦点深度 DOF
聚焦之后,聚焦位置前后移动,也能清晰的观察的前后移动范围。 DOF：Depth Of Focus
高倍率镜头倍率越高较深越浅（短）
低 倍率镜头倍率越低较深越深（长）
在人眼分辨力以下（约0.1至0.3mm）需要使用显微镜来，显微镜的观察方法又有哪些呢？
观‖察‖方‖法
明视场观察
垂直照射测量物表面，适用于金属、印刷电路板、浅孔的表面观察。
暗视场观察
通过对从工件发出的散射光进行观察，可完成在明视场下观察不到的划痕、尘埃、凹凸，以及胜任低反射工件的观察。
偏光观察
观察具有偏光特性的物质，适用于半导体材料、液晶、结晶、金属组织、矿物等表面观察。
微分干涉（DIC）观察
利用Nomarski棱镜将光线分为两束，形成明暗和对比度变化，可进行立体观察。适用于观察硅片的结晶缺陷、磁头研磨面的损伤检查、涂装面、金属组织、矿石表面等。
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